达高特 CMXDL+ 超声波测厚仪

简要描述:达高特CMXDL+超声波测厚仪性能全面,功能强大。搭载多种测量模式,可匹配双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔形),拥有USB Type-C数据接口,内置4GB SD存储卡。


DAKOTA CMXDL+ 售后维修,请寄:

王生,18939945529,上海市宝山区逸仙路1328号6号楼3312室

达高特 CMXDL+ 超声波测厚仪_DAKOTA测厚仪_达高特代理 简测实业(上海)有限公司 简测实业(上海)有限公司

详细介绍

- 100MHz FPGA时序电路设计

- 可选彩色和灰度显示屏

- A/B扫描

- 手动调节增益和自动增益控制(AGC),范围:100dB

- 自动时间相关增益(TDG)

- 多种测量模式

· 脉冲-回波(P-E)模式:测量材料厚度

· 脉冲-回波涂层(PECT)模式:同时测量材料和涂层厚度

· 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式:测量材料厚度

· 回波-回波(E-E)模式:穿过涂层测量材料厚度

· 回波-回波验证(E-EV)模式:穿过涂层测量材料厚度

· 测量涂层(CT)模式:只测量涂层厚度

- 双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔形)

- USB Type-C数据接口

- 内置4GB SD存储卡


测量:

- 脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48mm(钢)

- 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围:0.63mm~30.48mm(钢),0.0254~2.54mm(涂层)

- 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式,测量范围:0.63~30.48mm(钢)

- 回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)

- 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)

- 测量涂层(CT)模式测量范围:0.0127~2.54mm(涂层)

- 分辨率:0.01mm和0.001mm

- 声速范围:309.88~18542m/s

- 单位:公制或英制

- 一点和两点校准方式


显示:

- 显示屏:1/8英寸VGA灰度显示,240x160像素

- 可视区62x45.7mm,EL背光,20Hz刷新频率。可选1/4英寸彩色显示屏,320x240像素,可视区43.2x57.6mm,60Hz刷新频率

- A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场),纵向和横向视图(仅彩屏)

- B-扫描方式:基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数

- 大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm(灰度),14.35mm(彩屏),厚度条形扫描:速度10Hz,在B-扫描和大数字显示模式中可见

- 稳定度指示:表示测量值的稳定性

- 功能状态指示:显示当前激活的功能


超声波参数:

- 测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT模式

- 脉冲:可调方波脉冲发生器

- 接收:根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制(AGC),范围:110DB

- 阻抗:50~1500Ω可调

- 计时:单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TXCO计时

- 脉冲重复频率:250Hz


探头:

- 频率范围:1~20MHz

- 双晶探头

- 延迟块、接触式、笔形单晶探头

- LEMO接口,1.2米探头线

- 可定制用于特殊应用的探头


存储:

- 容量:内置4GB SD卡

- 数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)

- 截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录


其他:

- 键盘:12个触摸键

- 电源:标配为三节5号碱性电池,电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电

- 外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装

- 工作温度:-10~60°C

- 尺寸:63.5x165x31.5mm

- 重量:385g(包括电池)

- 符合NIST和MILSTD-45662A标准


探头参数:

探头型号 频率 探头尺寸 说明
T-102-2900 5MHz 晶片直径6.35mm,防磨面直径9.53mm,测量范围1.0~152.4mm 高阻抗双晶探头(标配探头)
T-042-5507 15MHz 晶片直径6.35mm 单晶延迟块探头
T-4023-2855 5MHz 晶片直径6.35mm 单晶接触式探头
T-4023-4855 10MHz 晶片直径6.35mm 单晶接触式探头

产品彩页

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